7856_漢測(興)

基本資料

漢測科技(HanTest,7856)是台灣探針卡設計製造與半導體測試服務廠,成立於 2004 年,總部新竹(工程服務)、南科(製造),全球據點涵蓋中國蘇州、日本東京/熊本、新加坡、馬來西亞、美國亞利桑那。

主要業務三塊:探針卡(薄膜式/懸臂式/垂直式)半導體測試設備與代理(Advantest 光罩量測 SEM 代理等)、工程測試服務(矽光子 insertion 1–3 駐點服務)。

2025 年興櫃登錄,計畫 2H26 競拍上市(預定轉 TWSE)。

2025 年營收 NT10.83(+372.5% YoY)。

資料來源:報告_永豐金_漢測7856法說_20260409(上市法說,2026-04-09)

核心技術/競爭優勢

  • 薄膜式探針卡(Film Probe Card):適用 5G/6G/RF 高頻晶片(TIA、400G+);100% 台灣在地製造;具備精準平整度控制(水平控制技術);Q2 2026 開始出貨量產客戶
  • MJC 技術轉移:與全球前三大探針卡廠日商 MJC 合作,取得 MEMS 探針卡技術,結合自製零組件強化在地支援
  • 矽光子測試工程服務:Insertion 1–3 駐點服務能力;美系客戶 Insertion 2 需求 10 人團隊、Insertion 3 需求 12 人團隊
  • 全製程整合能力:探針卡設計製造 + 清針耗材 + 雷射清針機 + 白光干涉量測 + 熱管理模組

產品與應用

產品 / 服務應用相關客戶 / 下游
薄膜式探針卡(Film Probe)5G RF、TIA(400G/800G)、高頻晶片美系 IC 設計客戶
懸臂式探針卡TDDI、LCD driver、GaN廣泛 IC 設計
垂直式探針卡(Cobra/MEMS)AI/HPC、DRAM DDR5/6、Silicon Interposer
雷射清針機探針卡維護耗材封測廠
白光干涉量測系統表面缺陷檢測
熱管理整合系統AI 測試散熱需求
矽光子測試工程服務Insertion 1–3(PIC wafer → die 測試)TSMC、OSAT

圖片 / 架構圖

flowchart LR
    A[探針卡設計製造\n薄膜式 / 懸臂式 / 垂直式] --> B[晶圓針測\nWafer Probing]
    C[工程服務\n矽光子 Insertion 1-3] --> B
    D[清針耗材\n雷射清針機] --> B
    E[量測設備\n白光干涉 / 熱管理] --> B
    B --> F[IC 設計客戶\n封測廠 / TSMC]

[待補來源圖] 需官方探針卡產品圖或矽光子測試架構圖。

EPS 記錄

年度營收(億)毛利率EPS(元)YoY
2024~2.30
202524.2542.1%10.83+372.5%
2026Q1~9.85(累計至3月)

時間軸

時間事件類型重要性備註
2025興櫃登錄掛牌★★★
2026-04薄膜式探針卡送樣(TIA 400G/800G)產品★★★美系客戶驗證
2026-04-09上市法說會(Sinopac)法說★★計畫 2H26 轉板競拍
2H26競拍掛牌(TWSE 計畫)轉板★★★★若通過審查
2H26Silicon Interposer 測試布局產品★★

供應鏈位置

  • 上游:MJC(日本,探針卡技術授權)、Advantest(代理日系測試設備)
  • 下游 / 客戶:IC 設計廠(RF、TIA、AI 晶片);TSMC/OSAT(矽光子工程服務)
  • 所屬供應鏈:→ 供應鏈_CPO(矽光子測試 Insertion 1–3 服務環節)

相關公司

公司關係說明
2330_台積電(市)最終下游CoWoS 矽光子封裝需要 Insertion 1–3 測試服務

風險與注意事項

Warning

  • 客戶集中風險:矽光子工程服務收入高度依賴少數美系 IC 設計大廠,需求波動影響明顯
  • 薄膜式探針卡尚在驗證:4月送樣、尚未取得量產訂單,時程延遲會影響 2026 EPS 上調空間
  • 競爭者積極追趕:薄膜式探針卡有其他台廠跟進開發,差異化需靠速度和良率
  • 轉板不確定性:興櫃→TWSE 競拍時程可能延遲或失敗,流動性受限

來源