技術_聚合物波導

定義

聚合物波導(Polymer Waveguide)是以有機聚合物材料(BCB、Ormocer 等)製成的光路導引結構,可以在 PCB 或封裝基板上整合光連接路徑,解決高速電互連的損耗瓶頸。

**ORDL(Optical Redistribution Layer)**是聚合物波導在封裝領域的關鍵應用:類比電的 RDL,在有機基板上做光的重佈線與間距轉換,是 CPO 埋晶光路整合的核心製程之一。

圖解

flowchart LR
    A[光源<br/>CW DFB / Fab-Perot] --> B[矽光子 PIC<br/>調變器 + PD]
    B --> C[聚合物 ORDL<br/>波導 + 微反射鏡]
    C --> D[光纖陣列<br/>外部連接器]
    
    subgraph 聚合物波導製程路線
        E1[BCB 乾膜<br/>Qnity / PCB 相容] 
        E2[壓印微影<br/>DNP / 10µm 間距]
        E3[Mosquito 法<br/>慶應大學 GI 核心]
        E4[2PP 3D 列印模具<br/>AIST KYOCERA]
    end

技術路線比較

路線代表製程損耗特色
BCB 乾膜(多模)Qnity ElectronicsPCB 壓膜 + LDI0.07–0.11 dB/cm低導入門檻,PCB 廠可做
壓印微影(多模)Dai Nippon PrintingUV 壓印 + squeegee~0.1 dB/cm(估)10 µm 間距(Δ≥2.3%)
Mosquito 法(單模)慶應義塾大學針注射 GI 核心0.22–0.35 dB/cm逼近材料極限,20 µm 細間距
埋晶 AOPAIST × KYOCERAUV 壓印 3D 微鏡112 Gbps PAM4 過 IEEE 400G 規格

技術原理

BCB 乾膜(Qnity Electronics,ECTC 2026)

Qnity(DuPont 電子材料分拆)用 CYCLOTENE 乾膜(CWG2100 包層 + CWG2000 核心)在 PCB 廠現有設備上做多模聚合物波導:

  • 傳播損耗:玻璃基板 0.07 dB/cm;PCB 基板 0.11 dB/cm
  • 可靠度:20 次回流焊無顯著變化;85°C/85%RH 1000 小時只增 ~0.02 dB/cm
  • 串擾警示:supermode 分析顯示即使 250 µm 間距,長傳輸下仍有約 1% 功率耦合(約 15 對 supermode)

壓印微影(DNP,ECTC 2026)

大日本印刷用壓印微影在玻璃基板上做高密度聚合物波導,揭示「高密度 = 高折射率對比」鐵律:

相對折射率差 Δ最小可用間距(串擾 ≤−30 dB)實測串擾
0.4–0.5%30–50 µm
1.0–1.3%20 µm
2.3%10 µm−32.3 dB

HTS 150°C 500 小時後 Δ 從 3.02% 降到 2.87%,仍遠高於 1.4% 可靠度門檻。

Mosquito 法(慶應大學,ECTC 2026)

用細針把核心單體注進包層單體,靠互相擴散形成漸變折射率(GI)圓形核心——結構性散射損耗最小化:

  • 1310 nm 損耗 0.22–0.35 dB/cm(接近 Ormocer 材料本徵 ~0.23 dB/cm)
  • 106 Gb/s(53 Gbaud PAM4):8 cm 波導 TDECQ 1.72 dB(有波導反比無波導更好)
  • 20 µm 細間距:流體力學分析後注核心繞過針徑,幾乎不擾動相鄰核心

AOP 埋晶基板(AIST × KYOCERA,ECTC 2026)

把矽光子收發器晶片「埋進」有機基板,配合聚合物 ORDL + 3D 微反射鏡做光路:

  • 上方 45° 鏡用 UV 壓印(模具靠 2PP 3D 列印,可重複使用)
  • 埋晶時無需超高精度對位(靠對位標記的 step-and-repeat 壓印)
  • 實測:112 Gbps PAM4、TDECQ 3.35 dB(過 IEEE 400G/400G-FR4 ≤3.4 dB)

關鍵參數 / 判斷指標

指標意義
傳播損耗0.07–0.35 dB/cm(依路線)訊號預算消耗
彎曲半徑≥5 mm(BCB)佈線靈活性
對位容差±5–12 µm(依耦合設計)量產裝配良率
可靠度溫度≤150°C / 85°C/85%RH後段製程相容性
串擾≤−30 dB(目標)訊號品質

技術瓶頸 / 風險

  • 多模 vs 單模:多模(BCB、壓印)便宜易做但速率有限;單模(Mosquito)高性能但量產節拍待驗
  • 彎曲半徑:BCB R=5mm 透射降至 46%,限制 PCB 佈線密度
  • 量產製程:Mosquito 法為序列式(逐根針寫入),對比 DNP 壓印並行製程吞吐差距大
  • 長期可靠度:聚合物波導的高溫高濕可靠度、ORDL 損耗穩定性都需長期數據
  • ORDL 與 PIC 整合良率:多晶片、多通道整合良率是商業化關鍵

關鍵廠商

環節廠商角色
BCB 乾膜(多模)Qnity Electronics(未)DuPont 分拆,CYCLOTENE 乾膜,PCB 相容
壓印(高密度)Dai Nippon Printing(未)壓印微影 10 µm 間距
CPO AOP 基板KYOCERA(未)與 AIST 合作,112 Gbps 主動點亮
研究(GI 單模)慶應義塾大學Mosquito 法 0.22 dB/cm
光路整合研究AISTOpto-chiplet FOWLP、AOP 基板
系統整合3711_日月光投控(市)FOPLP + ORDL 整合潛力

應用場景

  • CPO 板級光互連:GPU 叢集內部光路,取代長電氣走線
  • 埋晶光學封裝(AOP):PIC 埋進基板,做出光 I/O 密度革命
  • FOPLP 整合:聚合物 ORDL + 扇出封裝,高面積利用率

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來源

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