技術_聚合物波導
定義
聚合物波導(Polymer Waveguide)是以有機聚合物材料(BCB、Ormocer 等)製成的光路導引結構,可以在 PCB 或封裝基板上整合光連接路徑,解決高速電互連的損耗瓶頸。
**ORDL(Optical Redistribution Layer)**是聚合物波導在封裝領域的關鍵應用:類比電的 RDL,在有機基板上做光的重佈線與間距轉換,是 CPO 埋晶光路整合的核心製程之一。
圖解
flowchart LR A[光源<br/>CW DFB / Fab-Perot] --> B[矽光子 PIC<br/>調變器 + PD] B --> C[聚合物 ORDL<br/>波導 + 微反射鏡] C --> D[光纖陣列<br/>外部連接器] subgraph 聚合物波導製程路線 E1[BCB 乾膜<br/>Qnity / PCB 相容] E2[壓印微影<br/>DNP / 10µm 間距] E3[Mosquito 法<br/>慶應大學 GI 核心] E4[2PP 3D 列印模具<br/>AIST KYOCERA] end
技術路線比較
| 路線 | 代表 | 製程 | 損耗 | 特色 |
|---|---|---|---|---|
| BCB 乾膜(多模) | Qnity Electronics | PCB 壓膜 + LDI | 0.07–0.11 dB/cm | 低導入門檻,PCB 廠可做 |
| 壓印微影(多模) | Dai Nippon Printing | UV 壓印 + squeegee | ~0.1 dB/cm(估) | 10 µm 間距(Δ≥2.3%) |
| Mosquito 法(單模) | 慶應義塾大學 | 針注射 GI 核心 | 0.22–0.35 dB/cm | 逼近材料極限,20 µm 細間距 |
| 埋晶 AOP | AIST × KYOCERA | UV 壓印 3D 微鏡 | — | 112 Gbps PAM4 過 IEEE 400G 規格 |
技術原理
BCB 乾膜(Qnity Electronics,ECTC 2026)
Qnity(DuPont 電子材料分拆)用 CYCLOTENE 乾膜(CWG2100 包層 + CWG2000 核心)在 PCB 廠現有設備上做多模聚合物波導:
- 傳播損耗:玻璃基板 0.07 dB/cm;PCB 基板 0.11 dB/cm
- 可靠度:20 次回流焊無顯著變化;85°C/85%RH 1000 小時只增 ~0.02 dB/cm
- 串擾警示:supermode 分析顯示即使 250 µm 間距,長傳輸下仍有約 1% 功率耦合(約 15 對 supermode)
壓印微影(DNP,ECTC 2026)
大日本印刷用壓印微影在玻璃基板上做高密度聚合物波導,揭示「高密度 = 高折射率對比」鐵律:
| 相對折射率差 Δ | 最小可用間距(串擾 ≤−30 dB) | 實測串擾 |
|---|---|---|
| 0.4–0.5% | 30–50 µm | — |
| 1.0–1.3% | 20 µm | — |
| 2.3% | 10 µm | −32.3 dB |
HTS 150°C 500 小時後 Δ 從 3.02% 降到 2.87%,仍遠高於 1.4% 可靠度門檻。
Mosquito 法(慶應大學,ECTC 2026)
用細針把核心單體注進包層單體,靠互相擴散形成漸變折射率(GI)圓形核心——結構性散射損耗最小化:
- 1310 nm 損耗 0.22–0.35 dB/cm(接近 Ormocer 材料本徵 ~0.23 dB/cm)
- 106 Gb/s(53 Gbaud PAM4):8 cm 波導 TDECQ 1.72 dB(有波導反比無波導更好)
- 20 µm 細間距:流體力學分析後注核心繞過針徑,幾乎不擾動相鄰核心
AOP 埋晶基板(AIST × KYOCERA,ECTC 2026)
把矽光子收發器晶片「埋進」有機基板,配合聚合物 ORDL + 3D 微反射鏡做光路:
- 上方 45° 鏡用 UV 壓印(模具靠 2PP 3D 列印,可重複使用)
- 埋晶時無需超高精度對位(靠對位標記的 step-and-repeat 壓印)
- 實測:112 Gbps PAM4、TDECQ 3.35 dB(過 IEEE 400G/400G-FR4 ≤3.4 dB)
關鍵參數 / 判斷指標
| 指標 | 值 | 意義 |
|---|---|---|
| 傳播損耗 | 0.07–0.35 dB/cm(依路線) | 訊號預算消耗 |
| 彎曲半徑 | ≥5 mm(BCB) | 佈線靈活性 |
| 對位容差 | ±5–12 µm(依耦合設計) | 量產裝配良率 |
| 可靠度溫度 | ≤150°C / 85°C/85%RH | 後段製程相容性 |
| 串擾 | ≤−30 dB(目標) | 訊號品質 |
技術瓶頸 / 風險
- 多模 vs 單模:多模(BCB、壓印)便宜易做但速率有限;單模(Mosquito)高性能但量產節拍待驗
- 彎曲半徑:BCB R=5mm 透射降至 46%,限制 PCB 佈線密度
- 量產製程:Mosquito 法為序列式(逐根針寫入),對比 DNP 壓印並行製程吞吐差距大
- 長期可靠度:聚合物波導的高溫高濕可靠度、ORDL 損耗穩定性都需長期數據
- ORDL 與 PIC 整合良率:多晶片、多通道整合良率是商業化關鍵
關鍵廠商
| 環節 | 廠商 | 角色 |
|---|---|---|
| BCB 乾膜(多模) | Qnity Electronics(未) | DuPont 分拆,CYCLOTENE 乾膜,PCB 相容 |
| 壓印(高密度) | Dai Nippon Printing(未) | 壓印微影 10 µm 間距 |
| CPO AOP 基板 | KYOCERA(未) | 與 AIST 合作,112 Gbps 主動點亮 |
| 研究(GI 單模) | 慶應義塾大學 | Mosquito 法 0.22 dB/cm |
| 光路整合研究 | AIST | Opto-chiplet FOWLP、AOP 基板 |
| 系統整合 | 3711_日月光投控(市) | FOPLP + ORDL 整合潛力 |
應用場景
- CPO 板級光互連:GPU 叢集內部光路,取代長電氣走線
- 埋晶光學封裝(AOP):PIC 埋進基板,做出光 I/O 密度革命
- FOPLP 整合:聚合物 ORDL + 扇出封裝,高面積利用率
相關技術
- 技術_CPO(ORDL 是 CPO 光路整合的關鍵環節)
- 技術_矽光子(SiPh)(PIC 與 ORDL 的整合對象)
- 技術_玻璃基板(玻璃上的聚合物波導整合)
來源
- research_simpletechtrend_CPO矽光子ECTC2026_20260629(Qnity / DNP / 慶應 / AIST×KYOCERA,ECTC 2026)